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  • BSD-660活性碳孔結(jié)構(gòu)分布分析儀
    BSD-660活性碳孔結(jié)構(gòu)分布分析儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-660

    瀏覽量：1702

    活性碳孔結(jié)構(gòu)分布分析儀 是在液氮溫度下（77.3K）向樣品管內(nèi)通入一定量的吸附質(zhì)氣體（N2）通過(guò)氣體狀態(tài)方程PV=nRT，得到分壓點(diǎn)的吸附量；再通過(guò)BET或Langmuir等理論公式計(jì)算可得到樣品的比表面積，逐漸投入吸附質(zhì)氣體增大吸附平衡壓力，得到吸脫附等溫線；再通過(guò)吸附脫附等溫線的數(shù)據(jù)計(jì)算得到樣品的孔徑大小，孔體積，孔徑分布等信息。
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  • BSD-PS比表面積及孔容孔徑測(cè)試儀
    BSD-PS比表面積及孔容孔徑測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

    瀏覽量：3340

    比表面積及孔容孔徑測(cè)試儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS沸石孔徑測(cè)試儀
    BSD-PS沸石孔徑測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

    瀏覽量：1611

    沸石孔徑測(cè)試儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PS氧化金屬孔徑測(cè)試儀
    BSD-PS氧化金屬孔徑測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PS

    瀏覽量：1609

    氧化金屬孔徑測(cè)試儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PM納米碳酸鈣孔徑測(cè)試儀
    BSD-PM納米碳酸鈣孔徑測(cè)試儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PM

    瀏覽量：1672

    納米碳酸鈣孔徑測(cè)試儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PM納米碳酸鈣孔徑測(cè)定儀
    BSD-PM納米碳酸鈣孔徑測(cè)定儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PM

    瀏覽量：1687

    納米碳酸鈣孔徑測(cè)定儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PM氧化亞鐵孔徑測(cè)定儀
    BSD-PM氧化亞鐵孔徑測(cè)定儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PM

    瀏覽量：1786

    氧化亞鐵孔徑測(cè)定儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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  • BSD-PM硅藻土孔徑測(cè)定儀
    BSD-PM硅藻土孔徑測(cè)定儀

    更新時(shí)間：2024-10-24

    型號(hào)：BSD-PM

    瀏覽量：1548

    硅藻土孔徑測(cè)定儀 測(cè)試精度高、重現(xiàn)性好。 重復(fù)性誤差小于±1%。 測(cè)試范圍：比表面0.0005m2/g以上，微孔：0.35-2nm、介孔：2-50nm、大孔：50-500nm，樣品類(lèi)型：粉末，顆粒，纖維及片狀材料等可裝入樣品管的材料
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